光誘導原子力顯微鏡 Photo-induced Force Microscopy, PiFM

描述

PiFM 結合原子力顯微鏡（AFM）的高空間解析度與紅外光譜（IR）的化學指紋能力，能以非破壞性方式，同時分析奈米尺度下的表面形貌與化學圖譜 (Chemical Mapping)。其空間解析度可達 10 nm，能解析傳統 FTIR 無法區分的微區化學差異。PiF-IR 光譜可在數秒內獲取，量測快速且不需繁瑣校正，適用性高。